局部放電試驗(yàn)中的干擾類型和方式

　干擾會(huì)降低局部放電測(cè)試的檢測(cè)靈敏度，應(yīng)將干擾電平抑制到低水平。干擾的種類通常包括：電源干擾、接地系統(tǒng)干擾、電磁輻射干擾、測(cè)試設(shè)備各部件的放電干擾、各種接觸干擾。這些干擾及其對(duì)測(cè)試回路的訪問(wèn)。

　　一、電源干擾。探測(cè)器和測(cè)試變壓器使用的電源連接到低壓配電網(wǎng)，配電網(wǎng)中的各種高頻信號(hào)會(huì)直接造成干擾。因此，通常采用屏蔽電源隔離變壓器和低通濾波器進(jìn)行抑制，效果非常好。

　　二、接地干擾。測(cè)試電路接地不當(dāng)。例如，在有兩個(gè)或多個(gè)地的接地網(wǎng)系統(tǒng)中，各種高頻信號(hào)會(huì)通過(guò)接地線耦合到測(cè)試電路中，造成干擾。這種干擾通常與測(cè)試電壓水平無(wú)關(guān)。測(cè)試電路使用單點(diǎn)接地來(lái)減少這種干擾。

　　三、電磁輻射干擾。在高壓帶電設(shè)備或高壓輸電線路附近，無(wú)線電發(fā)射機(jī)和除測(cè)試電路之外的其他高頻信號(hào)如晶閘管和電刷以電磁感應(yīng)或電磁輻射的形式耦合到雜散或雜散電感上。測(cè)試電路，其波形往往難以與樣品的內(nèi)部放電區(qū)分開(kāi)來(lái)，對(duì)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量影響很大。它的特點(diǎn)是與測(cè)試電壓無(wú)關(guān)。消除這種干擾的基本對(duì)策是將樣品放置在良好屏蔽的實(shí)驗(yàn)室中。使用平衡法、對(duì)稱法和模擬天線法的測(cè)試回路也可以抑制輻射干擾。

　　四、暫停的潛在放電干擾。由靠近測(cè)試電路的未接地金屬產(chǎn)生的感應(yīng)浮動(dòng)電位放電也是一種常見(jiàn)的干擾類型。它的特點(diǎn)是測(cè)試電壓升高，但其波形一般更容易識(shí)別。消除的對(duì)策一是遠(yuǎn)離，二是接地。

　　五、電暈放電和每個(gè)接頭處的接觸放電干擾。電暈放電發(fā)生在高電位的試驗(yàn)電路的導(dǎo)電部分，如試件法蘭、金屬帽、試驗(yàn)變壓器、耦合電容端部、高壓端部等。帶領(lǐng)。由于各連接處接觸不良，測(cè)試電路中也可能出現(xiàn)接觸放電干擾。這兩種干擾的特性隨著測(cè)試電壓的增加而增加。消除此類干擾的方法是在高壓端采用防暈環(huán)措施（如防暈環(huán)），高壓引線采用不導(dǎo)暈的導(dǎo)電管，接頭之間接觸良好。

　　六、測(cè)試變壓器和耦合電容的內(nèi)部放電干擾。這種放電很容易與樣品的內(nèi)部放電相混淆。因此，所用試驗(yàn)變壓器和耦合電容的局部放電水平應(yīng)控制在一定的允許量以下。